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Erschienen bei Springer-Verlag Gmbh am 30. November 2
Format: Taschenbuch
Thema: Informatik, Bildbearbeitung, Fachbücher, Ingenieurwissenschaften, Computertechnik, Mustererkennung
Erschienen bei Springer-Verlag Gmbh am 30. November 2
Format: Taschenbuch
Thema: Informatik, Bildbearbeitung, Fachbücher, Ingenieurwissenschaften, Computertechnik, Mustererkennung
Erschienen bei Springer-Verlag Gmbh am 30. November 2
Format: Taschenbuch
Thema: Informatik, Bildbearbeitung, Fachbücher, Ingenieurwissenschaften, Computertechnik, Mustererkennung
Erschienen bei Springer-Verlag Gmbh am 30. November 2
Format: Taschenbuch
Thema: Informatik, Bildbearbeitung, Fachbücher, Ingenieurwissenschaften, Computertechnik, Mustererkennung
Von Frédéric Cao, José-Luis Lisani, Jean-Michel Morel, Pablo Musé und Frédéric Sur.
Erschienen bei Springer-Verlag Gmbh am 30. November 2
Format: Taschenbuch
Thema: Informatik, Bildbearbeitung, Fachbücher, Ingenieurwissenschaften, Computertechnik, Mustererkennung
Von Marinus T. Vlaardingerbroek, Jaques A. den Boer und Andre Luiten.
Erschienen bei Springer-Verlag Gmbh am 30. November 2
Format: Gebundene Ausgabe
Thema: Informatik, Bildbearbeitung, Fachbücher, Ingenieurwissenschaften, Computertechnik, Mustererkennung
Von Franz Schmitt, Michael K. Stehling und Robert Turner.
Erschienen bei Springer, Berlin am 30. November 2
Format: Gebundene Ausgabe
Thema: Informatik, Bildbearbeitung, Fachbücher, Ingenieurwissenschaften, Computertechnik, Mustererkennung
Von Peter Reimer, Paul M. Parizel und P. Reimer.
Erschienen bei Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K am 30. November 2
Format: Gebundene Ausgabe
Thema: Informatik, Bildbearbeitung, Fachbücher, Ingenieurwissenschaften, Computertechnik, Mustererkennung
Erschienen bei Springer-Verlag Gmbh am 30. November 2
Format: Taschenbuch
Thema: Informatik, Bildbearbeitung, Fachbücher, Ingenieurwissenschaften, Computertechnik, Mustererkennung
Erschienen bei Springer Berlin am 30. November 2
Format: Taschenbuch
Thema: Informatik, Bildbearbeitung, Fachbücher, Ingenieurwissenschaften, Computertechnik, Mustererkennung
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